Микроскоп Leica DMi8 предназначен для исследовательских и лабораторных работ в области металлографии.
Инвертированный микроскоп Leica DMi8 с помощью модульной структуры позволяет вам получить устройство для решения любой задачи, требующей оптического метода исследования.
Оборудование позволяет: исследовать ваш образец в светлом поле (BF), в темном поле (DF), в режиме поляризации (POL), или дифференциального интерференционного контраста (DIC). Получите дополнительную информацию о поверхности, используя уникальное ультра-контрастное трехмерное освещение (UC 3D).
Диск диафрагмы Одна из новейших разработок — новые флуоресцентные кубики для микроскопа Leica DMi8 позволяют делать многоканальные изображения быстро и легко. Турель для кубиков имеет время переключения в 268 мс. Прочная конструкция кубиков обеспечивает идеальное выравнивание изображения с нулевым пиксельным смещением.
Оптимизация работы с sCMOS-камерами Хотите увидеть больше деталей Вашего образца с максимально возможным разрешением? В Leica DMi8 расширено поле зрения (FOV) для всех портов камер. Микроскоп оптимизирован для работы с самыми современными sCMOS камерами, а также имеет расширенный угол обзора 19 мм (по сравнению с 16 мм у стандартных портов для камер).
От макро до нано в один клик DMi8 может быть оснащен моторизованным переключением макро/нано режима для быстрого сканирования больших структур. Переход от макро (35мм) до нано (1нм) может быть осуществлен в один щелчок мыши. Переключайтесь между различными увеличениями (от 0,7х до 100х) и наслаждайтесь удобным освещением Ваших образцов с различных углов.
Темное поле в высоком разрешении (HAADF) Высокое разрешение в темном поле у Leica DMi8 предоставляет улучшенный контраст деталей образца с большей интенсивностью и четкостью, чем это делают обычные оптические методы. Также увеличено рабочее расстояние почти в два раза, что позволяет защитить Ваш образец и переднюю линзу от потертостей.
Системы анализа изображений в составе оптических микроскопов Leica Программное обеспечение систем анализа изображений в составе любых из вышеперечисленных световых микроскопов предназначено для автоматического анализа микроструктуры изучаемых образцов на соответствие различным стандартам (ГОСТ, ISO, ASTM, DIN и др.). Модульная структура программного обеспечения включает в себя такие популярные методики металлографического анализа, как:
Величина зерна в сталях и сплавах ГОСТ 5639,
Неметаллические включения в сталях и сплавах ГОСТ 1778 (методы Ш и К),
Анализ графита в чугуне ГОСТ 3443,
Относительное содержание феррита и перлита ГОСТ 8233,
Измерение длин игл мартенсита ГОСТ 8233,
Методы сравнения с эталонами и т.д.
Возможно создание уникальной методики анализа по техническому заданию заказчика (Анализ величины зерна и пористости в таблетках диоксида урана, Анализ альфа-фазы в титановых сплавах, Анализ многокомпонентных алюминиевых сплавов и т.д.).
Металлографический микроскоп Leica DMi 8 в комплектациях М, C и А. Доступны три комплектации микроскопа:
(М) – manual, ручной инвертированный микроскоп;
(C) – coded, инвертированный микроскоп с кодированными функциями;
(А) – automatized, инвертированный микроскоп с кодированными и автоматизированными функциями.
Наличие кодированных функций означает возможность передачи данных о той или иной функции микроскопа (револьверная турель объективов, турель модулей контрастирования, интенсивность освещения) на выносное устройство управления, в программное обеспечение, на устройства индикации положений.