GE nanoton m
GE Measurement & Control
nanotom m — система для проведения неразрушающей микро- и нанотомографии, применяемая для получения информации о внутренней структуре объектов и 3D-метрологии образцов с низким коэффициентом поглощения. Система обеспечивает высокое пространственное и контрастное разрешение в широком диапазоне применения. Полностью автоматизированное выполнение процесса компьютерной томографии, реконструкции и анализа обеспечивает простоту использования, быстроту работы и надежные результаты.

Сферы применения
  • Наука о живом (биологические, археологические образцы)
  • Природные ресурсы (керны, построение моделей для оценки эффективности разработки месторождений нефти и газа)
  • Материаловедение (композитные материалы, аддитивные изделия)
  • Электроника (контроль сборки, поиск дефектов)
Ключевые особенности nanotom m
  • Алмазное выходное окно, обеспечивающее высокую стабильность фокусного пятна и увеличение скорости работы системы
  • Опция для сканирования более длинных деталей с лучшим качеством helix|scan — сканирование по спирали
  • Высочайшее качество изображения благодаря уникальному термостабилизированному цифровому детектору (3072×2400 пикселей) с размером пикселя 100 мкм и динамическим диапазоном > 10 000:1
  • Нанофокусная рентгеновская трубка открытого типа позволяет определять детали размером до 200 нм, внутреннее охлаждение обеспечивает высокую стабильность результатов
  • 3D-метрологические измерения
Преимущества nanotom m:
  • Высокая производительность. Время сканирования в 16 раз выше по сравнению с аналогичными системами
  • Нанофокусная рентгеновская трубка открытого типа с мощностью на мишени до 20 Вт позволяет контролировать гораздо более широкий диапазон объектов и материалов
  • Открытый тип трубки позволяет проводить регулярное обслуживание и таким образом увеличить срок эксплуатации


Страна производства: Германия

Click to order
Ваш запрос
Total: 
Ваше имя
Ваш Email
Ваш телефон
Made on
Tilda