Войти
 
Другие рентгентелевизионные кабины

Томограф GE v|tome|x m240/m300

Waygate Technologies (ранее GE Inspection Technologies)
Отправить заявку
v|tome|x m — многоцелевая рентгеновская микрофокусная КТ-система для 3D метрологии и анализа с напряжением/мощностью 240 кВ/320 Вт или 300 кВ / 500 Вт . Система позволяет распознавать детали размером менее 1 мкм, что выводит ее в лидеры индустрии среди компактных систем с трубкой 300 кВ.

Микрофокусная трубка опционально может оснащаться новой разработкой компании GE высокопоточной мишенью, позволяющей до 2 раз увеличить производительность системы, либо проводить сканирования с удвоенным разрешением.

Система может оснащаться дополнительной нанофокусной трубкой, использование 2-х трубок позволяет значительно повысить универсальность и получать детальную 3D-информацию для широчайшего диапазона образцов.

Наличие детектора нового поколения с размером пикселя 100 мкм, программной опции для автоматизированного процесса сканирования и возможность оснащения роботом: позволяют применять систему для потокового КТ-контроля. При этом процесс контроля будет полностью автоматизирован, начиная от загрузки образцов, с дальнейшим подбором параметров сканирования, выполнением сканирования, обработкой 3D-модели и заканчивая выводом отчета по заданной форме.

M240/m300 является первой промышленной КТ-системой, оснащенной технологией коррекции рассеянного рентгеновского излучения, что особенно важно для контроля сильнопоглощающих изделий на основе железа, никеля, например, турбинных лопаток. Данная технология представляет собой программно-аппаратный комплекс, который в автоматизированном режиме убирает артефакты рассеянного излучения из 3D-модели, что позволяет получать лучшие результаты в сравнении с обычной томографией на плоскопанельный детектор.

Сферы применения
  • Анализ внутренних дефектов/количественный анализ пор;
  • Контроль качества сборки изделий;
  • Анализ структуры материалов;
  • Метрологические измерения с точностью 4 мкм + L[мм]/100;
  • Сравнение с CAD-данными;
  • Обратный инжиниринг;
  • Анализ толщины стенок.
Ключевые особенности
  • Первая компактная 300 кВ микрофокусная КТ система с возможностью определения деталей размером менее 1 мкм.
  • Максимальное увеличение для 300 кВ систем при исследовании сильнопоглощающих образцов.
  • Высокая мощность даже на максимальном ускоряющем напряжении.
  • Возможность применения долговечных катодов со сроком службы до 10 раз больше в сравнении с обычными.
  • Уникальная возможность использования двух трубок (dual|tube) для проведения как микро-КТ сильнопоглащающих образцов, так и нано-КТ высокого разрешения.
  • Использование высокопоточной мишени для получения результатов с удвоенным разрешением, либо уменьшением времени сканирования до 2-х раз.
  • Технология коррекции рассеянного рентгеновского излучения, позволяющая значительно улучшить результаты КТ-сканирования.
  • Новый детектор din 41|100: увеличение производительности в 2 раза, либо удвоенное разрешение за одинаковое время сканирования, в сравнении со стандартным 200 мкм детектором DXR250.
  • Возможность сканирования в полностью автоматизированном режиме.

    Страна производства: Германия